手持式红外线测温仪性能特点

    红外线测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇集其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由红外线测温仪的光学零件以及位置决定。红外能量聚焦在光电探测仪上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路按照红外线测温仪内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。除此之外，还应考虑目标和红外线测温仪所在的环境条件，如温度、气氛、污染和干扰等因素对性能指标的影响及修正方法。

    红外线测温仪黑体辐射定律：黑体是一种理想化的辐射体，红外线测温仪吸收所有波长的辐射能量，没有能量的反射和透过，其表面的发射率为1。应该指出，自然界中并不存在真正的黑体，但是为了弄清和获得红外辐射分布规律，在理论研究中必须选择合适，这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子，从而导出了普朗克黑体辐射的定律，即以波长表示的黑体光谱辐射度，这是一切红外辐射理论的出发点，故称黑体辐射定律。

    红外线测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由红外线测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照红外线测温仪内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。

    利用红外线测温仪导体电阻随温度变化而改变的性质而制成的测温装置。通常是把纯铂细丝绕在云母或陶瓷架上，防止铂丝在冷却收缩时产生过度的应变。在某些特殊情况里，可将金属丝绕在待测温度的物质上，或装入被测物质中。在测极低温的范围时，亦可将碳质小电阻或渗有砷的锗晶体，封入充满氦气的管中。将铂丝线圈接入惠斯通电桥的一条臂，另一条臂用一可变电阻与两个假负载电阻，来抵偿测量线圈的导线的温度效应。

    红外线测温仪影响发射率的主要因素在：材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。

    当用红外辐射红外线测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量，然后由红外线测温仪计算出被测目标的温度。单色红外线测温仪与波段内的辐射量成比例；双色红外线测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。

    一切温度高于*零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射能量的大小及其按波长的分布——与它的表面温度有着十分密切的关系。因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础。

    距离与光斑之比，红外线测温仪的光学系统从圆形测量光斑收集能量并聚焦在探测器上，光学分辨率定义为红外线测温仪到物体的距离与被测光斑尺寸之比(D:S)。比值越大，红外线测温仪的分辨率越好，且被测光斑尺寸也就越小。

    激光瞄准，只有用以帮助瞄准在测量点上。红外光学的改进是增加了近焦特性，可对小目标区域提供*测量，还可防止背景温度的影响。视场，确保目标大于红外线测温仪测量时的光斑尺寸，目标越小，就应离它越近。当精度非凡重要时，要确保目标至少2倍于光斑尺寸。

    红外技术及其原理的无异议的理解为其*的测温。当由红外线测温仪测温时，被测物体发射出的红外能量，通过红外线测温仪的光学系统在探测器上转换为电信号，该信号的温度读数显示出来，有几个决定*测温的重要因素，zui重要的因素是发射率、视场、到光斑的距离和光斑的位置。发射率，所有物体会反射、透过和发射能量，只有发射的能量能指示物体的温度。当红外线测温仪测量表面温度时，红外线测温仪能接收到所有这三种能量。

因此，所有红外线测温仪必须调节为只读出发射的能量。测量误差通常由其它光源反射的红外能量引起的。有些红外线测温仪可改变发射率，多种材料的发射率值可从出版的发射率表中找到。其它红外线测温仪为固定的予置为0.95的发射率。该发射率值是对于多数有机材料、油漆或氧化表面的表面温度，就要用一种胶带或平光黑漆涂于被测表面加以补偿。使胶带或漆达到与基底材料相同温度时，测量胶带或漆表面的温度，即为其真实温度。